Informator o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2016-2020

Publikacja zawierająca szczegółowe informacje o członkach Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN oraz działalności Komitetu w bieżącej kadencji oraz wykonanych dotąd ekspertyzach jest już dostępna (Informator).


Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN najlepszym komitetem

Więcej w listopadowym numerze Panoramy PAN - str. 2-5.

 

 Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej - tom 7

Ukazał się 7 tom serii wydawniczej Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej pod redakcją J. Mroczki (278 stron, http://www.oficyna.pwr.wroc.pl).

 

Informator o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2010-2014

Publikacja zawierająca szczegółowe informacje o członkach Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN oraz działalności Komitetu w bieżącej kadencji oraz wykonanych ekspertyzach jest już dostępna (niska rozdzielczość - 14 MBwysoka rozdzielczość - 200 MB).

 

Metrology and Measurement Systems
w grupie A na ministerialnej liście czasopism punktowanych

Uprzejmie informujemy, że na stronie www.czasopismapunktowane.pl znajduje się wykaz czasopism naukowych wraz z informacją o liczbie punktów przyznanych czasopismu. Kwartalnik Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN Metrology and Measurement Systems znajduje się w grupie A z liczbą punktów 15. Impact factor obowiązujący w 2015 r. wynosi 0,925. Więcej informacji o czasopiśmie jest dostępnych na stronie internetowej znajdującej się pod adresem: http://www.metrology.pg.gda.pl/.

 

Ekspertyzy Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN

Zakończone zostały prace nad ekspertyzami:
• „Stan i perspektywy metrologii jako interdyscypliny naukowej (w skali globalnej)” (Ekspertyza 1)
• „Strategia instytucjonalnego rozwoju metrologii w Polsce” (Ekspertyza 2).
Ekspertyzy zostały opublikowane w „Informatorze o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN w kadencji 2016-2020” (Informator).

 

Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej - tom 6

Ukazał się 6 tom serii wydawniczej Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej pod redakcją J. Mroczki (212 stron, http://www.oficyna.pwr.wroc.pl).